Industrial Analysis
Oxford Instruments Industrial Analysis bietet stationäre, mobile und tragbare OES- und XRF-Systeme zur Analyse, Werkstofferkennung, Schichtdickenanalyse und -messung für die verschiedensten Anforderungen industrieller Kunden.
- Optische Emissions Spektrometer (OES)
- Schichtdickenmessung (XRF und Wirbelstrom)
- Röntgenfluoreszenzspektrometrie (XRF, EDXRF, WDXRF)